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专利名称：太赫兹波穿透测量系统及太赫兹波穿透测量方法专利类型：发明专利发明人：高濑惠宏,中西英俊申请号：CN201811009626.3申请日：20180831公开号：CN109580530A公开日：20190405
摘要：提供一种适当校正用于检测太赫兹波的多个检测元件间的仪器误差的太赫兹波穿透测量系统及太赫兹波穿透测量方法。存储部(62)中保存振荡器(52)为关时的强度(无穿透强度A0)、振荡器(52)为开时的强度(全穿透强度A100)、以及穿透校正用样品(70a～70d)(穿透率5％、30％、58％、70％)的太赫兹波的穿透强度(A5、A30、A58、A70)。γ值决定部(633)对每个检测元件(540)决定γ值，该γ值是使根据穿透强度(A5、A30、A58、A70)求出的实测穿透率近似于校正用样品(70a～70d)的穿透率的γ校正的γ值。校正部(637)利用各个检测元件(540)的γ值对多个检测元件(540)检测出的强度进行γ校正。
申请人：株式会社斯库林集团
地址：日本京都府
国籍：JP
代理机构：隆天知识产权代理有限公司
代理人：向勇
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