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一种DRAM双芯片堆叠封装结构和封装方法[发明专利]

来源:爱玩科技网
专利内容由知识产权出版社提供

专利名称:一种DRAM双芯片堆叠封装结构和封装方法专利类型:发明专利

发明人:孟新玲,隋春飞,刘昭麟,户俊华,栗振超申请号:CN201410199594.3申请日:20140513公开号:CN103943615A公开日:20140723

摘要:本发明公开了一种DRAM双芯片堆叠封装结构和封装方法,两芯片中的一个直接倒装在基板上,另一个则贴装在前一个芯片上,所需要的工艺步骤减少,且倒装和键合的工艺难度都不高,整体的工艺难度降低,切不需要做焊点再分布,从而大大降低了封装成本。另一方面,工艺上的简单化,容易保证产品良率和生产效率。另外,该结构相比于既有的结构厚度减小,适用性更强。

申请人:山东华芯半导体有限公司

地址:250101 山东省济南市高新区新泺大街1768号齐鲁软件园大厦B座二层

国籍:CN

代理机构:济南泉城专利商标事务所

代理人:丁修亭

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