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专利名称：X射线检查装置专利类型：发明专利发明人：池田伦秋,山田和教申请号：CN201280075761.2申请日：20120912公开号：CN104620098A公开日：20150513
摘要：提供能够抑制来自X射线发生源的热所致的影响，将易于受到热的影响的电路构成部配置于与X射线发热源相同的收纳空间的X射线检查装置。在框体(10)中，设置有上部收纳空间(11)，在其内部设置有收纳于冷却容器(30)的X射线发生源(32)。冷却溶媒通过泵(36)的压力在冷却容器(30)与散热器33之间循环，抑制冷却容器(30)的温度上升。在上部收纳空间(11)中设置有冷却容器(30)，所以上部收纳空间(11)自身成为冷却空间，温度不易上升。因此，能够在上部收纳空间(11)中，配置易于受到热的影响的电路构成部件、发热性的电路构成部件。
申请人：世高株式会社
地址：日本新泻县
国籍：JP
代理机构：中国国际贸易促进委员会专利商标事务所
代理人：许海兰
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